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工业显微镜的叁种测量方式包括影像法测量原理、轴切法测量原理和目镜分化测量法。

影像法测量原理：这种测量方式以中央显微镜米字划分版作为基准。首先，将米字分划版上的十字线瞄准样品一侧边缘，记录下此刻读数器的数值。然后，移动显微镜的工作台，让同一根分划线对准样品另一侧边缘，再次记录度数器上的数值。由于被测样品被固定于工作台，在工作台移动的同时样品会跟随其一同移动，因此两次读数的差值（工作台移动距离）就是样品在该维度上的尺寸。

轴切法测量原理：这种测量方式主要针对尺寸较大的圆柱型样品进行测量。若使用影像法对该类型样品进行测量，可能由于样品母线在显微视场下模糊不清或照明系统光阑大小选择不当引起较大误差。因此，对于这类样品，轴切法测量原理更为适合。

目镜分化测量法：这是*简单快捷的测量方式。在显微镜的目镜上，激光打标了标尺线，此线基本上是十字型，并且在十字线冲分的有方格。每列的标准尺寸是0.1尘尘。观查的方式是调清晰所看的物件后，把要测量的物件挪动在标尺网上，随后读值。例如，如果所看的物件占有了标尺线的3方格，那么测量的规格就是0.3尘尘。此类测量方式的**度较差，但非常便捷。

以上就是工业显微镜的叁种测量方式。在实际应用中，应根据具体的检测目标和要求选择合适的测量方式。